本簡易電路特性測(cè)試儀由AD9851頻率合成器、STC89C52RC主控制器、LM324放大跟隨器組成。通過對(duì)被測(cè)電路的理論計(jì)算得出放大倍數(shù)以及被測(cè)參數(shù)的理論值，進(jìn)而采用高分辨率AD芯片xpt2046進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，將采集到的數(shù)據(jù)分別與DDS輸出的兩路正交信號(hào)通過模擬乘法器進(jìn)行乘法混頻，通過低通濾波器取得含有幅頻特性與相頻特性的直流分量，再由高精度A/D轉(zhuǎn)換器傳遞給STC89C52RC主控制器，由主控制器對(duì)所測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，最終測(cè)得特定放大器電路的特性，進(jìn)而判斷該放大器由于元器件變化而引起故障或變化的原因，并同時(shí)通過LCD12864繪制相應(yīng)的頻幅特性曲線，從而完成對(duì)被測(cè)電路的特性測(cè)試。