本書第2版描述了使用Synopsys工具進行ASIC芯片綜合、物理綜合、形式驗證和靜態時序分析的*概念和技術，同時針對VDSM（超深亞微米）工藝的完整ASIC設計流程的設計方法進行了深入的探討。 本書的重點是使用Synopsys工具解決各種VDSM問題的實際應用。讀者將詳細了解有效處理復雜亞微米ASIC的設計方法，其重點是HDL的編碼風格、綜合和優化、動態仿真、形式驗證、DFT掃描插入、lmks to layout、物理綜合和靜態時序分析。在每個步驟中，確定了設計流程中每一部分的問題，并詳細描述了解決方法。此外，對包括與時鐘樹綜合和links t0 layo[1t等版圖相關的問題也進行了較詳細的論述。而且，本書還對Synosys基本的工藝庫、HDL編碼風格以及*的綜合解決方案進行了深入探討。 本書的讀者對象是ASIC設計工程師和正在學習關于ASIC芯片綜合以及DFT技術的VLSI高級課程的碩士研究生。