當(dāng)前對(duì)中微子磁矩的實(shí)驗(yàn)靈敏度比標(biāo)準(zhǔn)模型預(yù)測(cè)高出多個(gè)數(shù)量級(jí)。 因此，下一代實(shí)驗(yàn)的潛在測(cè)量將強(qiáng)烈要求標(biāo)準(zhǔn)模型之外的新物理學(xué)。 但是，大的中微子磁矩通常會(huì)引起對(duì)中微子質(zhì)量的大的修正，并導(dǎo)致微調(diào)。 我們證明在中微子質(zhì)量與中微子磁矩成比例的模型中。 我們重新審視，討論并提出了仍可為大中微子磁矩的潛在測(cè)量提供理論上一致解釋的機(jī)制。 我們發(fā)現(xiàn)只有兩種可行的機(jī)制可以僅對(duì)馬約拉納中微子實(shí)現(xiàn)大的過(guò)渡磁矩。