本文基于高性能FPGA(Altera的Stratix II系列)詳細(xì)介紹了一種數(shù)字波束形成器(DBF)、動(dòng)目標(biāo)檢測(cè)器(MTD)和恒虛警檢測(cè)器(CFAR)的單芯片集成設(shè)計(jì)方案,最后對(duì)其性能特性和改進(jìn)方向做了初步的分析討論,以滿足更高性能要求時(shí)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。