我們研究在13和100 TeV質子-質子對撞機上涉及弱電玻色子的雙部分散射（DPS）過程。 具體來說，我們專注于三個DPS通道：W玻色子加兩個射流（W?jj），Z玻色子加兩個射流（Z?jj）和等號W對產生（W±?W±）。 我們證明Z?jj過程并沒有引起太多關注，它是測量有效橫截面σeff的最佳渠道。 在100 TeV對撞機上，三個DPS通道（尤其是W±?W±產量）中σeff測量的精度顯著提高。 我們主張對三個DPS通道的組合分析可以測試有效橫截面σeff的普遍性。