缺陷散射對相控陣超聲全聚焦成像的影響研究.pdf,相控陣超聲全聚焦成像充分利用了檢測信號，具有成像精度高、可進行缺陷識別等特點，是未來最具應用前景的相控陣成像算法之一。然而，目前相控陣超聲全聚焦成像仍不能實現缺陷的高分辨率成像，無法對缺陷進行準確的定性、定量分析。為此，采用有限元仿真相控陣傳感器的全陣列采集（FMC）過程，在全矩陣數據的基礎上設計全聚焦成像程序，對圓孔和裂紋兩種典型缺陷進行TFM成像，研究典型缺陷的TFM成像規律，從缺陷散射的角度分析影響相控陣超聲全聚焦成像的因素。結果表明，實際檢測中相控陣超聲傳感器只能接收到缺陷的部分散射信息，而相控陣超聲在缺陷處的散射場分布與缺陷的類型、尺寸、角度及入射波類型、入射角度等因素有關，因此能否接收到缺陷散射的主要能量是影響全聚焦成像精度的關鍵。