雷達輻射源信號因無法避免的振蕩器相位噪聲影響而具有無意調制個體特征現象。特定輻射源識別（SEI）技術研究立足于從截獲的輻射源信號中提取細微且穩健的特征，這些特征是由特定輻射源個體所決定的指紋信息。采用圍線積分雙譜提取由振蕩器相位噪聲所造成的無意調制個體特征，并將圍線積分雙譜的均值、波形熵和雙譜熵作為量化特征衡量不同雷達輻射源之間的個體差異。仿真實驗表明，提取的量化特征在一定的信噪比環境下較好地體現輻射源之間的個體差異性，并且能夠實現輻射源個體識別。